无损检测

      弈镁提供了基于电子散斑(ESPI)、激光错位散斑干涉(Shearography)、数字相关(DIC)技术的先进应变、应力、表层缺陷的光学无损测试解决方案。

      先进材料和部件的研发,需要了解材料和构件在不同负载下的弹性形变。全场光学测量技术正越来越多地应用于材料检测、断裂力学、振动分析领域。德国DANTEC Dynamics 的电子散斑(ESPI)和数字相关(DIC)系统是设计应用于全场三维、全领域并且高度灵敏的位移和应变分析,目前已广泛应用于全球各大领域,如航空、航天、国防、汽车工业等。

      便携式复合材料全场无损检测系统采用当今世界最先进的激光错位散斑干涉(Shearography)技术,可用于无损检测试件表层下面的各种缺陷。


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